热像仪在电路研发和测试中的先进应用

自动化在线数据加载中...

数据加载中...

首页 > 新闻系统 > 仪表仪器 > 仪表仪器技术

热像仪在电路研发和测试中的先进应用

作者：EMC—long　发布时间：2008-05-23 05:20:49　来源：　繁体版

欢迎访问autooo.net

电路研发温度分析

1 电路元器件温度分析

当前，电子设备主要失效形式就是热失效。据统计，电子设备失效有55％是温度超过规定值引起，随着温度增加

，电子设备失效率呈指数增长。一般而言电子元器件的工作可靠性对温度极为敏感，器件温度在70-80℃水平上每增

加1℃，可靠性就会下降5%。

2 负载分析

在电路研发过程中，可以除了常规的测试（如示波器、万用表等）手段外，还可以用热像仪对电路板进行检测，

通过显示出的不同温度点，对元器件所承受的电流，电压等情况进行了解，工程师根据所检测的温度点，完善电路，

欢迎访问autooo.net

1/8 1 2 3 4 5 6 ›› ›|

【评论】【加入收藏夹】【大中小】【打印】【关闭】

来顶一下

返回首页

※ 相关信息

·新售经济型16路无纸记录仪 (2008-07-03)

·六月巨献，华北工控高端全长CPU卡 (2008-07-02)

·科昊推出KH300制药厂专用温度记录 (2008-06-17)

·科昊最新推出KH200温度专用记录仪 (2008-06-09)

·国防科技工业自动化测试技术研究 (2008-05-26)

·航天测控：手持式高性能测试仪器 (2008-05-26)

·专业维修电路板！ (2008-04-15)

·微软研发智能系统可通过电脑24小 (2008-02-20)

·迈瑞全自动生化分析仪项目获得国 (2008-02-20)

·NI LabView环境帮助开发现场总线 (2008-02-20)

关键：应用先进测试研发电路温度红外分析元器件器件

※ 其他信息

搜索新闻

[提交投稿] [管理投稿]

最新新闻

热点新闻

·CK6432（FANUC-0TD）数控车床

数据加载中..